當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 激光粒度儀 > Bettersize3000Plus > Bettersize3000plus激光圖像粒度儀廠家
簡要描述:Bettersize3000Plus激光/圖像粒度粒形分析儀是一種激光+圖像二和一的粒度粒形分析系統(tǒng)。它的激光散射系統(tǒng)為雙鏡頭斜入射光學系統(tǒng),成像系統(tǒng)為動態(tài)雙路遠心顯微成像系統(tǒng),可同步進行粒度和粒形分析,實現(xiàn)了一機兩用。Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀還具有折射率測量技術、自動測試技術、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗技術、顆粒圖像快速識別技術、樣品復配技術等,
相關文章
Related Articles詳細介紹
圖像粒度儀廠家供應的Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀是一種激光+圖像二和一的粒度粒形分析系統(tǒng)。它的激光散射系統(tǒng)為雙鏡頭斜入射光學系統(tǒng),成像系統(tǒng)為動態(tài)雙路遠心顯微成像系統(tǒng),可同步進行粒度和粒形分析,實現(xiàn)了一機兩用。
雙鏡頭斜入射光學系統(tǒng)是由大功率泵浦偏振激光器、進口.鏡頭組、石英樣品池和全角度光電探測器陣列組成。由于采用了高性能的鏡頭和獨v特的激光斜入射結構,在單光束條件下實現(xiàn)了全角度散射光信號的接收——這是百特原創(chuàng)的專v利技術。這種技術不僅達到了進口儀器的用多光束技術來擴大散射光角度的效果,還避免了多光束技術造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差,使測試結果更準確,同時實現(xiàn)了對納米、微米甚至毫米級樣品的準確粒度測試。由于探測器數(shù)量多和結構獨v特,該儀器具有超v強分辨單峰、雙峰和多峰樣品的能力。同時,該儀器還具有樣品折射率測量技術、自動對中技術、防干燒超聲波分散技術、SOP技術、大功率短波長偏振光技術等,進一步保證了重復性、準確性和分辨力。
動態(tài)雙路遠心顯微成像系統(tǒng)并聯(lián)在激光散射系統(tǒng)中,可隨時拍攝流動中的顆粒圖像并同時進行粒形分析,在得到粒度分布的同時,還能同時得到圓形度、長徑比、粗糙度等粒形參數(shù)。更重要的是,這個顯微成像系統(tǒng)能準確捕捉到樣品中的最大顆粒,實現(xiàn)了D100的有效測量,彌補了激光粒度儀無法測試D100的缺憾,為鋰電池等領域提供了準確測試D100的可靠手段。
Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀還批量出口到美國、德國、巴西、韓國、俄羅斯等十幾個國家和地區(qū)。2019年下半年,Bettersize3000Plus參加了德國聯(lián)邦材料研究和測試研究所舉辦的實驗室間“激光散射法測定陶瓷粉末粒度"的比對測試活動。在與43個實驗室送檢的國際品牌儀器的PK中,Bettersize3000Plus的所有樣品的測試結果都在允許公差范圍內,以100%的比測成功率穩(wěn)居第一集團,受到歐洲顆粒界的矚目。
Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀還具有折射率測量技術、自動測試技術、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗技術、顆粒圖像快速識別技術、樣品復配技術等,綜合性能達到或超過進口儀器水平,特別適合大企業(yè)、高校、研究院所等實驗室。
激光散射系統(tǒng) | |
---|---|
測試范圍 | 0.01-3500μm |
進樣方式 | 自動循環(huán)分散系統(tǒng) |
重復性偏差 | .≤0.5%(國標樣D50偏差) |
準確性偏差 | .≤0.5%(國標樣D50偏差) |
測量原理 | 米氏散射理論 |
測量方式 | 自動測量(SOP),自動對中 |
最快測量時間 | ≤10秒 |
激光光源 | 偏振泵浦固體激光器(10mW/532nm) |
光路系統(tǒng) | 斜入射雙鏡頭光路系統(tǒng) |
露點溫度測量 | 有 |
折射率測量范圍 | 1.4-3.6 |
操作系統(tǒng) | Win7/Win10及以上 |
接口方式 | USB2.0或3.0 |
光電探測器 | 96個 |
超聲波功率 | 50W |
循環(huán)池容積 | 600mL |
循環(huán)流量 | 3000-8000mL/分鐘 |
產(chǎn)品復配 | A×α%+B×(1-α%)=C |
電壓 | 100-240VAC,50/60Hz,4A |
體積與重量 | 820×610×290mm,48kg |
顯微圖像系統(tǒng) | |
---|---|
圖像分析范圍 | 2-3500μm |
CCD配置 | 進口高速CCD |
圖像識別速率 | 120幀/秒 |
放大倍數(shù) | 20倍/400倍 |
顆粒識別速度 | 10000個/分鐘 |
分析項目 | 粒度分布、最大粒徑、長徑比、圓形度等 |
各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
各種金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
其它粉體:河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛?、各種乳液等。
斜入射雙鏡頭技術:百特專v利技術,采用激光斜入射技術,結合前向、側向和后向散射光探測技術,達到全角度測量,擴大了測量范圍,提升了細顆粒端的測量精度,提升了分辨率。
顯微圖像與激光散射二合一技術:激光法測試細顆粒具有優(yōu)勢,圖像法測試粗顆粒準確度高,采用激光與圖像聯(lián)合測試屬于強強聯(lián)合,測試結果準確性更高,同時可進行粒形分析。
樣品折射率測試技術:對未知折射率的樣品可以先測量折射率,包括實部和虛部,保證了粒度測試的準確性。
自動循環(huán)分散與自動測試技術:防干燒超聲波分散器、離心循環(huán)泵、自動進水系統(tǒng)、自動排水和溢水系統(tǒng),適用于所有樣品,保證了樣品充分分散,保證了測試的準確性和重復性。
產(chǎn)品咨詢